単結晶X線回折(single crystal X-ray diffraction)

2022年9月4日 最終更新日時 : 2023年4月28日 semi-journal

測定対象が単結晶であるX線回折法(XRD)。

単結晶XRDでは、各面からの反射を表す回折スポットが重ならないため、反射面の位置情報・反射強度を正確に知ることが出来るため、より正確な構造決定が可能である。

X線回折法(XRD)とは：測定原理と応用例

  1. X線回折(Wikipedia)
  2. X線回折(Rigaku)
  3. ブラッグの法則(Wikipedia)
  4. [XRD]X線回折法(MST)
  5. 粉末未知結晶構造解析の紹介(日本結晶学会誌)
  6. 薄膜の結晶構造解析技術(富士時報)
  7. 粉末未知結晶構造解析の紹介(Rigaku)

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