粉末X線回折(powder X-ray diffraction)

測定対象が多結晶粉末試料であるX線回折法(XRD)のこと。

粉末は微小な単結晶がランダム配向で集まっているため、単結晶試料とは異なり、各反射面の位置・共同情報が失われている。そのため、正確な結晶構造を得るためには、各面からの反射スペクトルを分離する必要がある。

X線回折法(XRD)とは：測定原理と応用例

参考文献 参考図書

1. X線回折(Wikipedia)
2. X線回折(Rigaku)
3. ブラッグの法則(Wikipedia)
4. [XRD]X線回折法(MST)
5. 粉末未知結晶構造解析の紹介(日本結晶学会誌)
6. 薄膜の結晶構造解析技術(富士時報)
7. 粉末未知結晶構造解析の紹介(Rigaku)

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