X線回折法(X-ray diffraction)

「結晶性試料にX線を照射した際、原子の周りにある電子によってX線が散乱・干渉した結果得られる回折パターンを解析する」測定手法。

回折スペクトルは結晶構造反映したものとなるため、スペクトルから結晶構造を同定することが出来る。スペクトル情報から、以下の物性が評価可能である。

(出典：MST)

• ピークの位置

面間隔d：格子定数・定性分析(データベースと照合)

• ピークのシフト量

混晶の組成分析・固溶度分析

• 強度比

単結晶・多結晶・配向性の評価

• 半値幅

結晶性・結晶子サイズ(シェラ―の式)・格子歪み

X線回折法(XRD)とは：測定原理と応用例

参考文献 参考図書

1. X線回折(Wikipedia)
2. X線回折(Rigaku)
3. ブラッグの法則(Wikipedia)
4. [XRD]X線回折法(MST)
5. 粉末未知結晶構造解析の紹介(日本結晶学会誌)
6. 薄膜の結晶構造解析技術(富士時報)
7. 粉末未知結晶構造解析の紹介(Rigaku)

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