消衰効果(extinction effect)

2022年9月19日 最終更新日時 : 2023年4月28日 semi-journal

回折X線が結晶内で多重反射することにより、回折強度が減少する効果。完全性の高い結晶ほど結晶内での多重回折が起こりやすいため、完全結晶ほど回折X線の強度が低下する。

結晶性の違いによりX線の回折強度が異なることを利用し、X線トポグラフィー(XRT)に応用されている。

X線トポグラフィー(XRT)とは：原理と応用例

参考文献 参考図書

1. X線トポグラフ(XRT)(日鉄テクノロジー)
2. X線トポグラフィー(Rigaku)
3. 結晶欠陥の可視化-X線トポグラフィーによる観察-(日鉄テクノロジー)
4. X線トポグラフ(ラング法)の話(産総研)
5. X線トポグラフィーの原理と応用(OSTEC)
6. Sample Preparation, Data Collection and Phase-ID using Powder XRD(National research Council)

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