回折コントラスト(diffraction contrast)
結晶性の薄片試料をTEM・STEM測定した際に生じる、回折に起因するコントラスト。
例えば多結晶の場合、各結晶粒で方位が異なるため、結晶粒ごとに電子線の回折条件が異なる。回折を起こした部分は明るく、回折条件を満たさない箇所は暗くうつり、コントラストが付く。
結晶性の薄片試料をTEM・STEM測定した際に生じる、回折に起因するコントラスト。
例えば多結晶の場合、各結晶粒で方位が異なるため、結晶粒ごとに電子線の回折条件が異なる。回折を起こした部分は明るく、回折条件を満たさない箇所は暗くうつり、コントラストが付く。