リファレンス
半導体のバンド曲がり：原理と実例
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O-U
out-of-plane
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H-N
in-plane
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あ行
インプレーン回折(in-plane diffraction)
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評価法
X線回折法(XRD)とは：測定原理と応用例
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か行
格子間酸素(interstitial oxygen)
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た行
置換型炭素(substitutional carbon)
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か行
格子間炭素(interstitial carbon)
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か行
原子番号効果(atomic-number effect)
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た行
特性X線(characteristic X-ray)
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