評価法
原子間力顕微鏡(AFM)とは：測定原理と応用例
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た行
トランジスタ(transistor)
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か行
降伏現象(breakdown)
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O-U
pn接合(pn junction)
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トランジスタ
スケーリング則(デナード則)とは：MOSFETの微細化
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は行
バンド理論(band theory)
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H-N
n型半導体(n-type semiconductor)
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O-U
p型半導体(p-type semiconductor)
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は行
反転層(inversion layer)
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トランジスタ
MOSFETとは：動作原理・構造・応用例
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