さ行
すべり面(gliding plane)
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シリコンの科学
シリコンの結晶欠陥：空孔・転位・析出物とは
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O-U
TDDB(Time Dependent Dielectric Breakdown)
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O-U
TZDB(Time Zero Dielectric Breakdown)
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評価法
MOSFETのゲート絶縁膜信頼性評価：TZDBとTDDBの違い
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は行
ピンチオフ(pinch off)
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た行
チャネル長変調効果(channel length modulation)
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トランジスタ
短チャネル効果とは：MOSFET微細化の限界と対策
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評価法
原子間力顕微鏡(AFM)とは：測定原理と応用例
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た行
トランジスタ(transistor)
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