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な行
内部微小欠陥(bulk micro defect)
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A-G
BMD(bulk micro defect)
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ま行
マイグレーション(migration)
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あ行
エレクトロマイグレーション(electromigration)
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な行
なだれ降伏(avalanche breakdown)
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か行
欠乏層(depletion layer)
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か行
空乏層(depletion layer)
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た行
ツェナー降伏(zener breakdown)
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あ行
アバランシェ降伏(avalanche breakdown)
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H-N
HEMT(high electron mobility transistor)
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