た行
特性X線(characteristic X-ray)
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さ行
散乱コントラスト(scattering contrast)
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あ行
位相コントラスト(phase contrast)
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か行
回折コントラスト(diffraction contrast)
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か行
間接遷移型半導体(indirect bandgap semiconductor)
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た行
直接遷移型半導体(direct bandgap semiconductor)
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は行
波数(wave number)
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評価法
透過型電子顕微鏡(TEM)とは：測定原理と応用例
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評価法
走査型電子顕微鏡(SEM)とは：測定原理と応用例
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評価法
赤外分光法(FTIR)とは：測定原理と応用例
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